GIS絕緣缺陷的分類(2)-國浩(hào)電氣
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GIS絕緣缺陷的分類(2)

發布時間:2021-08-20 01:06:53人氣:

(3)懸浮電位
在GIS開關設備中存在著大量的連接觸頭和(hé)金屬屏蔽,由於不良的裝配或經過長期的(de)運行,在電動力(靜電力引起的機(jī)械振動)或外力(lì)(斷路器操作的振動)的作用下它們可(kě)能會出現鬆動甚至振動。這(zhè)種屏蔽振動或觸頭電接觸鬆動,會形成(chéng)懸浮電位,從而構成電容。該電容被外施(shī)電壓充電,當充電電壓超過耐受電壓時,就(jiù)會產生大規模局(jú)部放電。

GIS屏蔽鬆動
GIS屏蔽鬆動
上圖是(shì)一(yī)個500kV GIS上鬆動的金屬(shǔ)屏蔽的(de)圖(tú)片,由於緊固螺栓鬆(sōng)動使得屏蔽搭接在高(gāo)壓導體上(shàng),該故障在出廠試驗時被發現和排除(chú)。

(4)絕緣子氣隙或內(nèi)部缺陷
在GIS絕緣子製造過程(chéng)中,時常會(huì)產生一些內部缺陷,比(bǐ)如內部氣隙、嵌入的金屬微粒等。其中絕緣子內部氣泡(pào)缺陷最為常見,它主要是由於在絕(jué)緣件生產過程中真空度不夠或環氧樹(shù)脂(zhī)在固化過程中的(de)收縮(suō)而出現的內部空隙(xì)所造成的,此外因環氧樹脂與金屬(shǔ)電極的收縮係數不同,也會形成氣泡和空(kōng)隙。同時在GIS整間(jiān)隔裝配(pèi)時也可能刮傷或碰傷絕緣件造成裂縫等氣隙缺(quē)陷。
GIS絕緣子(zǐ)缺陷(xiàn)
GIS絕緣子缺陷
上圖是一組GIS絕緣子(zǐ)缺陷引起的閃絡放電的圖片,其中左側是內部有氣隙裂紋的盆式(shì)絕緣子,右側是表麵有劃痕的(de)支撐絕緣子。隨著生產工藝水平以及出廠試驗要求的不斷提(tí)高(IEC標準規定絕緣件的單件試驗要求局部放電小於3pC),絕緣子內部氣隙產生可能性很(hěn)小。在實(shí)際生產中,絕緣子缺陷即便發生也多是因為(wéi)安裝過程中(zhōng)的(de)不當操作所致。

(5)絕緣子表麵汙染物
絕(jué)緣子的表麵汙染物可能是由於(yú)以下原因造(zào)成的(de):

a. GIS腔體內的自由金屬微(wēi)粒運動到絕緣子表麵;
b. 觸頭(tóu)運動摩擦產生的金屬微(wēi)粒散(sàn)落到支(zhī)撐(chēng)絕緣子表麵;
c. 局(jú)部放電產生的分(fèn)解物,比如工廠或現(xiàn)場耐壓試驗時放電閃絡在絕緣子表麵產生的樹痕(hén);

其中絕緣子表麵吸附的固體自由金屬微粒,在某些情況下(比如被油脂粘住)會(huì)長期地固定在絕緣子表麵,作用類似於(yú)金屬突起物(wù)。這(zhè)類絕(jué)緣子表麵微粒缺陷可能在最初階段對GIS沒(méi)有任何危險,但隨著表麵(miàn)電荷的積累和靜電力的作用,可能會發生移動並最終對設備絕緣造(zào)成損害引發故障。
GIS絕緣子表麵汙染物閃絡
GIS絕緣子表麵汙染物閃絡
上圖是一組GIS絕緣子由於表麵汙染物而引起的沿麵閃絡放電的(de)圖片。在出廠試驗(yàn)階段這一類缺陷引發的局部放電(diàn)還(hái)是比較常見的,這也從(cóng)另一方麵(miàn)表(biǎo)明保持絕緣件(jiàn)表麵的潔淨(jìng)度是非常重要的。

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