電樹枝的引發階段是指從局部場強的集中到氣體放電微孔的形成這一階段。這一段時（shí）間也稱為電樹枝的潛（qián）伏期，其持（chí）續時間從幾個月至（zhì）幾（jǐ）年不等，在電樹枝的潛伏期中，基本上沒有明顯的局部放電信號的產生，無法通過檢測局部放電信號來判斷XLPE的絕緣狀態，給（gěi）XLPE電纜的壽命預測帶來極大的困難。經過（guò）國內外的學者研究發現，電樹枝（zhī）的引發時間的主要受電壓幅值、電（diàn）壓頻率、溫度與缺陷類型的（de）影響，而這些外施應力都具有相（xiàng）同的效果，就是改變了缺陷附近的電場分布，引起了局部電場集中，因此有必要對影響電樹枝的引發（fā）時間的因素進一步的研究，為XLPE電纜的潛伏性故障預測提供理論依據。
電樹枝引（yǐn）發的基本過程
國內外研究（jiū）學者公認，電樹枝的引發是一種極其複雜的電腐蝕現（xiàn）象，包（bāo）括電荷（hé）注入一抽出、局部放電、局部氣壓、局部高（gāo）溫（wēn）、電一機械（xiè）力、物理變形、化學分解等在內的複雜綜（zōng）合過程，由於電樹枝的複雜、隨機、多變（biàn），導致到目前為止，仍然沒有一個統一的理論能對電樹枝的引發（fā）過程中（zhōng）的所有現象進行合理的描述，自發現電（diàn）樹枝以來，人們就提出了一係列的機理來解釋電（diàn）樹枝的引發，其中比較具有代表性的理論主要有氣隙放電理論、麥克斯韋電一機械應力理論，電子碰（pèng）撞，電致發光的光降解理論（lùn），陷阱理（lǐ）論。現在一般的（de）認為，電（diàn）樹枝引發與注（zhù）入到聚合物中（zhōng）的（de）電荷有關，聚合物的斷鏈與自由（yóu）基的形成是電樹枝開始引發的標（biāo）誌，引起聚（jù）合物的斷（duàn）鏈的原因還（hái）沒有統（tǒng）一的理論，有的認為是注入的電子獲得足夠的能力後撞擊大分子所致，有的認為是注入的載流子在複合時引起電致發光，其中紫外線部分引起光降解，使化學鍵斷裂。在（zài）實際中，電樹枝的引發通常是由於幾種應力綜合下使得缺陷附（fù）近形成局部場（chǎng）強集中，從而（ér）引起了電荷的注入與抽（chōu）出，而且空間電荷的（de）注入效（xiào）率也與多種因素有關，如電極（jí）金屬的材料、電壓的波形、機械應力的影響、溫度等，電荷（hé）的注入與抽出使得絕緣（yuán）層聚合物的斷鏈，此時遊離在空氣中的氧分子再次與分子斷鏈生產的自由基（jī）反應，經過反複的電化學作用，在聚合物中形（xíng）成了空氣微孔（kǒng），導致了電樹枝的引發，上圖描述了（le）電樹枝引發的基本過程。
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