局部放電（diàn）的（de）電氣檢測法是在（zài）定的電壓條件下，當設備的絕緣結構被（bèi）腐蝕（shí）時，測試由試品局部放（fàng）電所引起的高頻電流脈衝信號（hào）。因為（wéi）這類幹（gàn）擾信（xìn）號會經常出現不固定的相位，和局（jú）部（bù）放電信號的波形也非常相似，所以是最難以去除的一類幹擾信（xìn）號（hào）。此類幹擾的特點是：在時域上表現為脈衝信號，且（qiě）持續時間非常短暫；而在頻域上表現為寬帶信號，含多鍾頻率（lǜ）成分。
1. 可控矽（guī）元件動作引起的幹擾
引起（qǐ）此類幹擾的原因是：在供電設備中，存在可控矽元件在工作。可（kě）控矽幹擾擾是一種最（zuì）強的幹擾源，其幹擾的大小和所用（yòng）可（kě）控矽的功率息息相關。此（cǐ）類幹擾波形的特點是：在橢圓基線上，每個元件都會產生一個與之相（xiàng）應的高頻電流脈衝信號（hào），信號的位置是固定的，且所占的比重比較大（dà）、因為當電路被接通時，信號的波形會變（biàn）寬，幅值會增大（dà），電磁耦合效應（yīng）將會增強。
2. 異步電機引起的幹（gàn）擾
引起此類幹擾的原因是：在檢測回路（lù）中有耦合的異步電機在運行。此類幹擾波形的特（tè）點是：在橢圓正、負半周上對稱的出現兩組信號，且沿橢圓基線逆掃描方向移動。
3. 熒光（guāng）燈引起的幹擾
此（cǐ）類幹擾（rǎo）波形的特點（diǎn）是：在（zài）橢圓墓線的正（zhèng）、負半周上，對稱分布出現欄（lán）柵狀的二簇脈衝組，且信號的（de）幅值大小基（jī）本相等。如圖所示（shì）：(1)為單個可控矽元（yuán）件動作產生的幹擾；(2)為6極水銀整流器（qì）產生的幹（gàn）擾，它和可控矽動作產生的幹擾波形作常相（xiàng）似；(3)為旋轉電機產生的幹擾；(4)為熒光燈工作引起的幹（gàn）擾。
4. 繼電器、接觸器動作引起的幹擾
引起此類幹擾的原（yuán）因是：在檢測過程中，有熱繼電器、火花試（shì）驗器、火花放電記錄器以及閃光燈（dēng）在工作。此（cǐ）類幹擾波形的特（tè）點是：幹擾信號幅值與試驗電壓的大小無關，且間斷（duàn）、不（bú）規則的分布（bù）在（zài）橢圓（yuán）基線上。此類（lèi）幹（gàn）擾信號的波（bō）形如圖所示。
引起此類幹擾的原因是：電極(特（tè）別是金屬箔電極)在電場方向的運動。此類幹擾的波形特點（diǎn）是：在橢圓基線上，隻在（zài）半周出現兩個對稱分布（bù）在（zài）峰值點（diǎn）兩側（cè）的脈衝信號。放電起始（shǐ）時，兩個信號非常靠近。隨著電壓的（de）上升，信（xìn）號逐漸向（xiàng）兩端擴展，將（jiāng）可能有新的脈衝信號對產生。此類幹擾信（xìn）號的波形（xíng）如圖所示。
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