根據理論分析得知，TEV有可能是由於局部放電引起的電磁波從開關櫃不連續處泄（xiè）露而（ér）形成。為了驗證其理論的正確性，首先對（duì）無縫（féng）情況時的TEV傳（chuán）播過程進行了仿真（zhēn），其（qí）結果如下（xià）圖所示。
無縫情況下TEV傳播（bō）過程
上圖所示（shì）為無縫情況下TEV信號在（zài）開關櫃（guì）內的傳播過程，TEV信號（hào）以放電源為中心向（xiàng）四周輻射（shè），明顯穿透了開關櫃（guì）金（jīn）屬外殼，不過理論上金屬對電磁信號有很強的屏蔽作用，為了得知電磁信號是否被屏蔽，通過檢測探針（zhēn）在（zài）開關櫃模型金屬殼外表麵測量到的信號強度如下圖所示。
無縫時TEV信號強度
無縫時的TEV信號仿真結果最大值為6e-9V/mm，接近於0，由（yóu）此可見（jiàn），開關櫃殼體對TEV信號產生的金（jīn）屬屏蔽作用明顯，TEV信號以（yǐ）穿透金屬為（wéi）傳（chuán）播路徑的可能性很小。
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