由於超聲波對絕緣材料（liào）內（nèi）部放電不太敏感，小編在此隻列出了其他三種（zhǒng）典型絕緣缺陷下的局部放電超聲特性。
（1）懸浮電極放電缺（quē）陷
當電力設備內存在懸（xuán）浮電（diàn）位缺陷時，運行情況下由於局部電場畸變可能會產生局部放電。利用超聲波傳感器測得的局放信號與外加的電（diàn）壓信號（hào）具有明顯的關聯性，具體說來，在（zài）放電（diàn）譜（pǔ）圖中存在典型的50Hz和100Hz相關性，且50Hz相關性小於（yú）100Hz相關性。此外，在特（tè）征指（zhǐ）數檢測模式下，放電次數累積譜圖波峰位（wèi）於整數特征（zhēng）值1處。下表為懸浮電位漏洞情況下超聲波（bō）診（zhěn）斷典型（xíng）圖譜。
懸浮電位漏洞情況下超（chāo）聲波診斷典型（xíng）圖（tú）譜
（2）電暈缺陷
當電（diàn）力設備（bèi）內因製造、運行（háng）、檢修等產生金屬尖刺時，在運行（háng）情況下，由於尖刺周圍電場畸變會產生電暈放電信號。利用超聲波傳感（gǎn）器測得的局放信（xìn）號與外加的（de）電壓信號具（jù）有明顯的關聯性，具體說來，在放電譜圖中存在典型的50Hz和（hé）100Hz相關性，且50Hz相關性小於100Hz相關性。此外，在（zài）特（tè）征指數檢測模式下，放（fàng）電次數累（lèi）積（jī）譜圖（tú）波峰位於整數（shù）特征值（zhí）2處。下表為電（diàn）暈缺陷超聲波檢（jiǎn）測典型圖譜（pǔ）。
電暈缺陷超聲波檢測典型圖譜
（3）自由金屬微粒缺陷
當電力設備內部有（yǒu）自由運動的金屬微粒時，電力設備運（yùn）行時金屬（shǔ）微粒會受到電場力和的作用，當電場力大於地（dì）球引力時，金屬（shǔ）微粒會發生自由跳動或移（yí）動現象。但是，與電暈缺（quē）陷（xiàn）、懸浮電位缺陷不同，自由金屬微粒產生的超聲波信號與（yǔ）放電關聯較小，而（ér）主要由與電力設備（bèi）的外殼碰撞引起。由於金（jīn）屬微粒的跳躍（yuè）高度決定了微粒與外殼的碰（pèng）撞，二者的碰（pèng）撞時（shí）刻也較為隨機，因此在開展局放超聲波（bō）檢測時，此缺陷不會表現（xiàn）出明顯的相位特（tè）征。但是，由於自（zì）由金屬（shǔ）微粒通過（guò）直接碰撞產生超聲波信（xìn）號，因此其信號有效值及周期峰值往往較（jiào）大。此外（wài），在時域波形（xíng）檢（jiǎn）測模式下，檢（jiǎn）測（cè）譜圖中可見明顯脈衝信號，但信號的周期性不明顯。當存在自由金屬微粒缺陷時，超聲波檢測典型圖譜如下表所示。雖然自由金屬微粒缺陷無明顯相位聚集（jí）效（xiào）應。但是，當統計自由金屬微粒與（yǔ）設備外殼的碰撞次數與時間的關（guān）係時，卻可發（fā）現明顯的譜圖特征。該譜圖定（dìng）義（yì）為“飛（fēi）行圖”，通過部分局部（bù）放電超聲（shēng）波檢測儀提供的“脈衝檢測（cè）模式”即可觀察自由（yóu）金屬微粒（lì）與外殼碰撞的“飛（fēi）行圖”，進而可以判斷（duàn）出設備內部是否存在自由金屬微粒缺陷現象。
自（zì）由金屬顆粒缺陷超聲波檢測典型圖譜
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