造成GIS內發生局部放電的原因往往（wǎng）是多方麵的，影響（xiǎng）介質性能的缺陷主要有嚴重的裝配錯誤、自由金屬微粒、導體之間電（diàn）氣或機械（xiè）接觸不（bú）良、電極突（tū）出（chū）物、絕緣（yuán）子缺陷、SF6中混有水蒸氣等幾類（lèi），如圖所示。
①嚴重（chóng）的（de）裝配錯誤
有些影響介質性能的嚴重裝配錯誤在（zài）交接試驗時可能會被漏檢。比如，本來隻做運輸途中用的袋裝幹燥（zào）劑，但在組裝時卻忘了從GIS部件中取出來，組裝（zhuāng）後不易被檢測（cè）到。它雖然不會立即引（yǐn）起故障（zhàng），卻對今後GIS的運（yùn）行帶來（lái）了無窮後（hòu）患。②自由金屬微粒
自由金屬微粒是氣體絕緣裝置中最常見的缺陷，它一（yī）直是導致GIS故障的主要原因。這些微（wēi）粒可能是製（zhì）造或組裝過程中（zhōng）產生的，也（yě）可能是開關裝置動作過（guò）程中產生的。 GIS中的自由金屬微粒能夠在交流電壓下獲得電荷並在電場的（de）作用下移動，如（rú）果電場足夠強，微粒就能完全地穿過外殼和高壓導體之間的間隙。微粒運動的程度取決於微粒的材料、形狀等因素（sù）。當微粒靠近而未（wèi）接觸到高壓導體時，更容易發生（shēng）局部放電。微粒遷移並附著在絕緣子表麵時也很危險。為此，對有關微粒的行（háng）為和（hé）故（gù）障機理己開（kāi）展了（le）大（dà）量的工作（zuò）。③接觸不良的電位浮動
在GIS內，靜電屏蔽廣泛地（dì）用來控（kòng）製危險部位的電場強度。屏蔽電極與高壓導體或（huò）接地導體（tǐ）間的電氣連接通常是輕負載接觸。由於這些連接部分隻（zhī）傳輸小的容性電流，通常對連接部分（fèn）要求不高（gāo）。然而一些連接部分在最初（chū）安裝時雖然接（jiē）觸很好，但隨著（zhe）時（shí）間推移會老化和位移，造（zào）成接觸（chù）不良，導（dǎo）致電位浮（fú）動。屏蔽（bì）或導體連接點機械上的不良接觸（chù）會（huì）導致（zhì）因靜電力（lì）引起的機械振動。這種振動會導（dǎo）致接觸進一步惡（è）化，最終出現（xiàn）電極電（diàn）位浮動。
對於大多數電位浮動的電極，所形成的充電電容會產生局部放電並產生相（xiàng）對較強的電磁和超（chāo）聲（shēng）信號。這種放電信號會形成腐蝕性的分解物和微粒，從而（ér）加速惡化過程，汙染附近的絕緣表麵直致造成絕緣失敗。
④固定微粒（lì）
固定微粒通常有兩種存（cún）在形式:一是金屬突起（qǐ），一是（shì）微粒附著在固體絕緣或絕緣子表麵。金屬突起通常是由於不良加工、機械破壞或組裝時的擦刮而出現的，尖頭突出形成絕緣氣體中的高場強區。這些（xiē）突出物通（tōng）常異常尖銳，在工頻電壓下電暈（yūn）會變（biàn）得穩定化，因而在穩態（tài）工作條件下（xià）不一定會引起擊穿（chuān）。然而，在快速（sù）暫態現象下，譬如在（zài）雷電波，尤其是在（zài）快速暫態過電壓下這些缺陷會引起故障。
絕緣子表麵（miàn）的微粒，若是暫時粘在絕緣（yuán）子表麵的（de），通常會移動到低場強（qiáng）區而（ér）不發生局部放（fàng）電，但在某些情況下會長期地固定在絕緣子表（biǎo）麵。作為固定微粒，它粘（zhān）貼在絕緣表麵的作用類似於金（jīn）屬突起物（wù）。
⑤絕緣子缺陷
絕緣子（zǐ）表麵異常是（shì）由（yóu）其它的缺陷類型引起的二級（jí）效應，比如局部放電產（chǎn）生的分（fèn）解物、金屬微粒或者絕緣氣體中可能過多的水氣引起的破壞。另（lìng）外，現場測試時閃絡產生的樹痕在某種（zhǒng）情況下也可以被視為缺陷。絕緣子內的缺陷通常很小，常常是一些在製（zhì）造過程中形成但又很難檢測到的缺陷，比如在製造（zào）過（guò）程中嵌入的金屬（shǔ）微粒、環氧樹脂在固化過程中的收縮（suō）以及環氧（yǎng）樹（shù）脂和金屬電極不（bú）同的熱（rè）脹係數而出現的空隙和層離（lí）。
⑥SF6中混有水蒸氣等（děng）
GIS中使用的高（gāo）氣壓SF6是一種良好的絕緣介質，在實際設（shè）計中，少量的添（tiān）加某些其它氣體（tǐ）對SF6的（de）介質行為（wéi）沒有大的（de）影響，而水蒸氣對SF6的介（jiè）質性能影響很大。當溫度（dù）下降（jiàng）時，水蒸氣就會（huì）出現凝露，結（jié）合其它混合物，影響介質表（biǎo）麵（miàn）的導（dǎo）電性，改變它的老化特征或直接導致故障。上述任何一種缺陷都（dōu）有可能發（fā）生（shēng），掌握GIS內部的（de）缺陷類型特征，研究各種缺陷的嚴重程度（dù），將GIS內的局部放電類型進行分類，對於GIS的檢修工作有著重要的現實意義。
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