GIS內部的典型絕緣缺陷大體上分為毛刺放電、懸浮放電、自由顆粒放電、毛刺放電、絕緣子表麵汙穢以(yǐ)及空穴(xué)放電。GIS殼體或導體(tǐ)上的(de)毛刺尖端通(tōng)常(cháng)由於加工、運輸或安裝時的摩擦或碰(pèng)撞形成的,其電場相對(duì)集中,超聲波脈(mò)衝(chōng)信號50Hz相關性較(jiào)100Hz相關性表現的更為明顯;電動力和機械力造成的零配件鬆動或接觸不良引(yǐn)起的懸浮放電發生在正(zhèng)負半(bàn)周(zhōu)的電壓(yā)上升沿,因此100Hz相關性遠大於50Hz相關(guān)性,脈衝信號比較穩(wěn)定,同時通常伴有機(jī)械振動;自由顆粒產(chǎn)生的超聲(shēng)波信號大部分由顆粒與殼體撞擊產生的聲波脈衝組成;絕緣子表麵的缺陷和內部空穴會引起絕(jué)緣子沿麵或內部放電(diàn)使絕緣子老化甚至發生閃絡,但超聲波(bō)局部放電檢測(cè)法對空穴放電並不靈敏(mǐn)。
在GIS帶電檢測時,若超聲波局部放電檢測法測(cè)到異常信號,正常情況下的(de)判斷方法是與同一部位其他相或同一相其他部位的信號進行對比,而對於毛刺放電、懸浮放(fàng)電、自由(yóu)顆粒以及機械振(zhèn)動等四類超(chāo)聲波法(fǎ)靈(líng)敏的典型缺陷,則可以根據其典型放(fàng)電圖譜進行判(pàn)斷。
