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不同（tóng）施加電壓對GIS絕緣缺陷的檢驗效果

發布時間：2021-03-16 05:08:38人氣：

耐壓試驗
由於不同類型施（shī）加電壓對氣體中局（jú）部放電的激發作用機製（zhì）存在差異，研究表明，頻率較低的（de）工頻交（jiāo）流電壓(AC)、直（zhí）流電壓(DC)與頻率較高的衝擊電壓(Impulse )對放電時延（yán）、放電量、放電統計分（fèn）布以及放電發展模式的影響存在明（míng）顯的不同。德國德累斯頓（dùn）大學（xué）研究機構Haller RT等人(Technical University Dresden)和國際大電網組織都專門研究和統計了不同類型施加電壓對GIS設備中常見絕緣缺陷的檢測靈敏度和有效（xiào）性，結（jié）果表明，各（gè）種（zhǒng）施加電壓類型和檢測方法（fǎ）對於不同的絕緣缺陷的檢測能力（lì）不存在明顯的等效性，總結其研究結果如表所列。
不同類型施加電（diàn）壓對絕緣缺陷的檢測有效（xiào）性
不同類型施加電壓對絕緣缺陷的檢測有效性
比較上述分析統計結果，總結不同（tóng）施加電壓耐（nài）壓（yā）試驗和（hé）局（jú）部放（fàng）電（diàn）試驗對缺（quē）陷檢驗能力和（hé）檢測（cè）靈敏度如下：

1)直流電壓(DC)

直流耐壓試驗（yàn）對於GIS設備中固定缺陷(裝配（pèi）缺陷、電極表麵劃傷或尖刺、電極表麵汙（wū）染以及絕（jué）緣（yuán）子表麵狀態不良)的檢驗能力均有限，而其對自由金屬顆粒（lì）的（de）檢驗能力與顆粒大小有關，對尺度較小的金屬顆粒有較好（hǎo）的檢（jiǎn）測能力，而對尺度相對較大的（de）金屬顆粒效果不理想（xiǎng）。直流耐壓試驗在早期的（de）GIS耐壓檢驗中使用過，現己公認不適於GIS耐壓試驗。除電極劃傷、尖刺類缺陷外，直流局部（bù）試驗對其他（tā）類型（xíng）缺（quē）陷均具有一定的檢測（cè）能力。

2)交流電壓(AC)

30-70Hz交流和100-500Hz交流耐壓試驗對裝配缺陷和絕緣（yuán）子表麵狀態不良檢驗效果（guǒ）較好，對電極表麵劃傷、尖刺以及電極汙染（rǎn）的檢驗效果一（yī）般；而30-70Hz交流耐壓對固體絕緣內部缺陷的（de）檢（jiǎn）驗非常靈（líng）敏；30-500Hz交流局部放電試驗對電極和絕緣子表（biǎo）麵汙染、自由金屬顆粒以及固體絕（jué）緣介質內部（bù）缺（quē）陷均具備很好的檢測能力，但對電極表麵狀（zhuàng）態不良、電場異常等情況失效。

3)操作衝擊電壓(SI和OSI)

操作衝擊耐壓（yā）試驗對設備裝配（pèi）異常、電極表麵劃傷或尖刺、絕（jué）緣子表麵狀態不良及絕（jué）緣子（zǐ）內部氣隙等缺陷（xiàn）具有較好的（de）檢驗能力，但對絕緣子表麵狀態不良和自由金屬顆粒的效果不（bú）佳；而相應的局部放電試驗對除了（le）固體絕緣介質內部缺陷之外的其他幾種典型缺陷均具有較好的發現能力。

4)雷電衝擊（jī）電壓(LI和OLI)

雷電（diàn）衝擊耐壓試驗（yàn）對於（yú）檢測上述四種固定類型缺陷具有明顯的優勢，而（ér）該類試驗也為出廠試驗當（dāng）中較為嚴格的檢測手段。但雷電衝擊耐壓試驗對於固體絕緣內部缺陷和自由（yóu）金屬顆粒的檢測（cè）能力極為有限。相應的局部放電試驗（yàn）檢測效果目前（qián）缺乏統計。總體而言，交（jiāo）流電壓(30-500Hz)對於絕緣子表麵汙（wū）染、自由金屬微粒和絕（jué）緣子氣隙缺陷相比衝擊電壓具（jù）有一定（dìng）優勢，但（dàn）對（duì）於固定金屬尖刺、電極劃傷等電場異（yì）常類缺陷（xiàn）的檢測效（xiào）果明顯不如衝擊電壓。

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