串聯諧振裝置基（jī）本原理見圖
串聯諧振裝置原（yuán）理接線圖
當電源頻率f、電感L及被試品電容Cx滿足式(1-5)時回路處於串（chuàn）聯諧（xié）振狀態，此時：
回路中電流為（wéi）：
式中：
Uex：勵磁電壓；
R：高（gāo）壓回路的有效電阻。
被（bèi）試（shì）品上的電壓為：
式中：
ω：電源（yuán）角（jiǎo）頻率；
Cx：被試（shì）品（pǐn）電（diàn）容量。
輸出電壓Ucx：與勵磁電壓Uex之比為試驗回路的品（pǐn）質因（yīn）數Qs
由於試驗回路中（zhōng）的R很小（xiǎo），故試驗回路的（de）品質因數很大。在大（dà）多數正常情況下，Qs可達50左右，即輸出電壓是勵磁（cí）電壓的50倍，因此用這種方法能用電壓較低的試（shì）驗變壓（yā）器得到較高的試驗電壓。由於試驗時回（huí）路處於諧振狀（zhuàng）態，回路本身具（jù）有良好的濾波（bō）作用，電源波形（xíng）中的（de）諧波（bō）成分在試品兩端大為減少，通常輸出良好的正弦波（bō）形（xíng）電（diàn）壓。當被（bèi）試品擊穿時，電路（lù）失去諧（xié）振條件，電源輸出電流自動減小，被試品兩端的電壓（yā）驟然下（xià）降，從而（ér）限製了對被試品的損壞程度。
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